多代配備FISCHERSCOPE XDLM X-RAY膜厚量測設備，可以測試單層、雙層、三層膜厚，以及化學鎳、三元合金等不同鍍層膜厚。確保產品膜厚控制的高標準與一致性。我們致力於為客戶提供可靠的品質保證。

多代配備SEIKO SFT-9300 X-RAY膜厚量測設備，專為電鍍層膜厚分析而設計，提供精準的膜厚測量服務。此技術結合多代內部管理系統，確保產品膜厚控制的高標準與一致性。我們致力於為客戶提供可靠的品質保證。

金相顯微鏡是一種專門用於觀察金屬橫截面的顯微鏡，使用高解析度物鏡。當電鍍層膜厚出現爭議時，金相顯微鏡是一個重要的比對工具。它可以幫助確定鍍層的厚度是否符合規格，並檢測是否存在不均勻的區域。

多代擁有掃描式電子顯微鏡 (SEM)，可提供樣品表面微小區域的觀察與高解析度的圖像，此外，我們還配備了能量分散X光譜儀 (Energy Dispersive Spectrometer, EDS)，應用於元素分析。這讓SEM/EDS成為鍍層異常解析不可或缺的重要儀器。

多代配備先進的AA原子吸收光譜設備，提供專業電鍍藥液分析管理服務。透過AA原子吸收光譜，我們能夠精確測量金屬離子的濃度，確保電鍍過程品質穩定且符合標準。

多代配備UV分光光譜儀，應用於廠內電鍍藥液分析管理，以確保電鍍品質之穩定。